碳化硅衬底表面缺陷测量系统(2024CGZXWSJJ0255)采购公告
2024-12-04
福建/厦门
招标采购
碳化硅衬底表面缺陷测量系统(2024CGZXWSJJ0255)采购公告
福建/厦门-2024-12-04 00:00:00

碳化硅衬底表面缺陷测量系统(****************)采购公告

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项目名称 碳化硅衬底表面缺陷测量系统 项目编号 ****************
公告开始日期 ********** **:**:** 公告截止日期 ********** **:**:**
采购单位 华侨大学 付款方式 其他
联系人 成交后在我参与的项目中查看 联系电话 成交后在我参与的项目中查看
签约时间要求 成交后*个工作日内 到货时间要求 签约后***个工作日内
预算总价 ¥ ******.** + *** + ***
发票要求 增值税普通发票 增值税专用发票
含税要求
送货要求
安装要求
收货地址 华侨大学(厦门校区)
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

;售后服务承诺函 (必选) ;其他 (可选)

公告说明
采购清单*
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
碳化硅衬底表面缺陷测量系统 * 光电测量仪器
品牌 品牌* 镇江锐光凯奇
型号 *
品牌* 哈尔滨芯明天
型号 *
品牌* 索雷博光电
型号 *
品牌*
型号
品牌*
型号
品牌*
型号
预算单价 ******.**
技术参数及配置要求 设备功能:基于******光路结构白光干涉显微方法,配置多种照明方式,实现碳化硅衬底表面形貌和表面缺陷无损、全场测量,还可用于蓝宝石、金刚石等衬底材料。
(*)系统结构框架:多轴笼式结构框架、转接件等多个,系统相对稳定、集成度高,部分光路光学元件需具备切换拆卸功能;
(*)系统照明模式:双光源照明模式,可实现切换照明和同时照明功能;
(*)半复消色差物镜,数量*个,性能要求:
物镜适用范围:透射明场、透射暗场、偏光成像、荧光成像;
光学放大倍率:≥** ×;
数值孔径:≥*.*;
工作距离:≥* **;
(*)准直透镜#******,数量:*个;
(*)系统光源************:连续输出白光,寿命≥*****小时,工作电源***;
(*)二维平移台:*、*轴行程≥*** **;
(*)*轴扫描台:闭环,行程≥*** μ*,分辨率≤****;
(*)********:放大率*×,适用于亮场、***、荧光或偏光显微成像,*** * *****波段 超过 **% 的透射率;
(*)系统安装平台:自平衡,主动隔绝外界振动对系统的影响;
(**)工控机、显示屏*套,因特尔**处理器,****内存,**固态,****显卡;
(**)测量输出项目:表面图像、******白光干涉图;
参考链接
售后服务 商品承诺:原厂全新未拆封正品;*.邮寄到指定地点;*.后续耗材采购渠道畅通;*.系统器件质保一年;

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