碳化硅衬底表面缺陷测量系统(2024CGZXWSJJ0255)采购公告
2024-12-04
福建/厦门
招标采购
碳化硅衬底表面缺陷测量系统(2024CGZXWSJJ0255)采购公告
福建/厦门-2024-12-04 00:00:00
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碳化硅衬底表面缺陷测量系统(****************)采购公告
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项目名称 | 碳化硅衬底表面缺陷测量系统 | 项目编号 | **************** |
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公告开始日期 | ********** **:**:** | 公告截止日期 | ********** **:**:** |
采购单位 | 华侨大学 | 付款方式 | 其他 |
联系人 | 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 成交后在我参与的项目中查看 |
签约时间要求 | 成交后*个工作日内 | 到货时间要求 | 签约后***个工作日内 |
预算总价 | ¥ ******.** | ||
发票要求 | |||
收货地址 | 华侨大学(厦门校区) | ||
供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 (必选) 售后服务承诺函 ;其他 (可选) |
采购清单*
采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
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碳化硅衬底表面缺陷测量系统 | * | 套 | 光电测量仪器 |
品牌* | 镇江锐光凯奇 |
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型号 | * |
品牌* | 哈尔滨芯明天 |
型号 | * |
品牌* | 索雷博光电 |
型号 | * |
预算单价 | ¥******.** |
技术参数及配置要求 | 设备功能:基于******光路结构白光干涉显微方法,配置多种照明方式,实现碳化硅衬底表面形貌和表面缺陷无损、全场测量,还可用于蓝宝石、金刚石等衬底材料。 (*)系统结构框架:多轴笼式结构框架、转接件等多个,系统相对稳定、集成度高,部分光路光学元件需具备切换拆卸功能; (*)系统照明模式:双光源照明模式,可实现切换照明和同时照明功能; (*)半复消色差物镜,数量*个,性能要求: 物镜适用范围:透射明场、透射暗场、偏光成像、荧光成像; 光学放大倍率:≥** ×; 数值孔径:≥*.*; 工作距离:≥* **; (*)准直透镜#******,数量:*个; (*)系统光源************:连续输出白光,寿命≥*****小时,工作电源***; (*)二维平移台:*、*轴行程≥*** **; (*)*轴扫描台:闭环,行程≥*** μ*,分辨率≤****; (*)********:放大率*×,适用于亮场、***、荧光或偏光显微成像,*** * *****波段 超过 **% 的透射率; (*)系统安装平台:自平衡,主动隔绝外界振动对系统的影响; (**)工控机、显示屏*套,因特尔**处理器,****内存,**固态,****显卡; (**)测量输出项目:表面图像、******白光干涉图; |
售后服务 | 商品承诺:原厂全新未拆封正品;*.邮寄到指定地点;*.后续耗材采购渠道畅通;*.系统器件质保一年; |
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