SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备评标结果公示公告(1)
2026-06-04
浙江/杭州 中标结果
SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备评标结果公示公告(1)
浙江/杭州-2026-06-04 00:00:00
项目名称:*** 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标项目编号:*****************/**
招标范围:*** 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标机构:苏美达国际技术贸易有限公司
招标人:北京天科合达半导体股份有限公司
开标时间:********** **:**
公示开始时间:********** **:**
评标公示截止时间:********** **:**
中标候选人名单:
候选人排名投标商名称制造商制造商国别及地区
*杭州创锐光谱科技集团有限公司杭州创锐光谱科技集团有限公司中国

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