透射电镜用原位加电芯片测试
2026-04-24
安徽/合肥 中标结果
透射电镜用原位加电芯片测试
安徽/合肥-2026-04-24 00:00:00

透射电镜用原位加电芯片测试成交公示

日期:********** **:**:**

采购信息

采购单位名称

物质科学与信息技术研究院

采购项目名称

透射电镜用原位加电芯片测试

成交供应商

安徽芯冕技术服务有限公司

成 交 价

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联系方式

联系邮箱

****@***.***.**

公示时间

自发布公示之日起*个工作日

采购清单

序号

物资名称

规格型号

单价

数量

技术参数

*

透射电镜用原位加电芯片测试

/

****

**项

利用电子束*离子束双束电镜,制备原位芯片加电样品,具体要求如下: *、常规样品要求厚度*****左右,大小***微米,厚度均匀,边缘整齐、表面干净无非晶,必须保证通电,且接触电阻小于***欧; *、样品预倾转角度:*度,**度,**度。 *、样品种类和数量:****,******, ******等样品数量 (**个*****元=*****元);

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