X射线高分辨率测试卡(JJ20260026)延期公告
2026-01-19
重庆/重庆 变更澄清
X射线高分辨率测试卡(JJ20260026)延期公告
重庆/重庆-2026-01-19 00:00:00
项目名称 *射线高分辨率测试卡 项目编号 **********
公示开始日期 ********** **:**:** 公示截止日期 ********** **:**:**
采购单位 重庆大学 付款方式 货到验收合格付款
联系人 中标后在我参与的项目中查看 联系电话 中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求 成交后*个工作日内 到货时间要求 合同签订**个工作日内
预算 未公布
质保金(元) 发票要求 增值税专用发票
是否外贸
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

收货地址 重庆大学*区***研究中心
采购清单*
采购物品 采购数量 计量单位 所属分类
微焦*射线源分辨率测试卡 * 其他仪器仪表
品牌 *
规格型号 *
技术参数 基底尺寸(*********): * ** * * ** * *.** ** 硅芯片窗(******* **** ****):* ** * * ** * *** ** ***** 几何形状(********): ****** **形 参数( **********): 金箔厚度(**** ******) ~**** ** 线宽(******* **** ******)[μ*]:*** * ** * ** * ** * ** * ** * * * * * * * * * * * * * *.* * * * *.* * *.* * *.* * *.* * *.** * *.* * *.** * *.*
售后服务 电话支持:***小时;质保期限:*年;


重庆大学


********** **:**:**

微信客服
公众号
小程序