制备****/*****/****异质纳米线的高质量轴向截面样品，并通过高分辨透射电子显微镜、扫描透射电子显微镜、*射线能谱、电子能量损失谱及几何相位分析等手段，实现对**量子点与硅纳米线界面原子结构、晶格取向、成分分布及应变状态的精准解析。技术要求包括：精准获得异质纳米线的截面、样品减薄至电子透明（****;**;*** **）、界面区域无非晶化或污染，样品可回收。

服务过程须符合实验室安全规范，确保数据真实、可重复，并提供原始数据及分析报告。